| Bulgarian |
| has gloss | bul: Сканиращият тунелен микроскоп (СТМ) е техника, позволяваща да се изучават повърхности на атомно ниво. СТМ сондира плътността на състоянията в даден материал, като детектира тунелния ток. Съвременните СТМ имат резолюция от около 0.1 nm на ширина и 0.01 nm на дълбочина. За изобретяването му, физиците Герд Бининг и Хайнрих Рорер получават Нобеловата награда по физика за 1986. |
| lexicalization | bul: Сканиращ тунелен микроскоп |
| Czech |
| has gloss | ces: STM (z angl. Scanning Tunnelling Microscope), jehož české označení zní řádkovací tunelový mikroskop, je druhem neoptického mikroskopu, který mapuje povrch vodivého vzorku pomocí změny průběhu potenciálu, resp. proudu při pohybu vodivé sondy nad vzorkem. Přesněji se jedná o závislost množství elektronů (velikosti el. proudu), které tuneluje z materiálu do hrotu sondy a jež je exponenciálně závislé na vzdálenosti. STM byl vynalezen v roce 1981 Gerdem Binnigem a Heinrichem Rohrerem, kteří za tento objev získali Nobelovu cenu. |
| lexicalization | ces: Řádkovací tunelový mikroskop |
| Danish |
| has gloss | dan: Scanning Tunnel Microscope, kaldet STM, er et mikroskop, der kan vise overfladen på et metal eller en halvleder med så høj opløsningsevne, at det er muligt, at se de enkelte atomer. STM blev opfundet i 1982 ved IBM i Zürich. Gerd Binnig og Heinrich Rohrer modtog nobelprisen for opfindelsen i 1986. |
| lexicalization | dan: Scanning Tunnel Microscope |
| German |
| has gloss | deu: Die Rastertunnelmikroskopie (abgekürzt RTM, oder STM von englisch scanning tunneling microscopy) gehört zu den Techniken der Rastersondenmethoden (abgekürzt SPM, von englisch scanning probe microscopy), die sich nur in der Zusammensetzung der Sonde und deren Wechselwirkung mit einer zu untersuchenden Oberfläche unterscheiden. Im RTM ist die Sonde eine elektrisch leitende Nadel, meistens Spitze genannt. Der wechselwirkende Prozess ist der des quantenmechanischen Tunneleffekts. Bei einer angelegten Spannung zwischen einer Spitze und einer Oberfläche führt dies zu einem statisch messbaren Tunnelstrom. |
| lexicalization | deu: Rastertunnelmikroskop |
| Persian |
| has gloss | fas: میکروسکوپ تونلی روبشی گونهای میکروسکوپ پراب روبشی است که براساس روبش سطح رسانا بهوسیله نوک بسیار باریک ( در حد چند نانومتر ) و تغییر در میزان جریان عبوری برحسب فاصله کار میکند. بااین میکروسکوپ میتوان نحوه آرایش اتمها در سطح شبکه را به تصویر کشید. به عبارت دیگر تصویر ایجاد شده نشان دهنده آرایش فضایی نوار رسانش فلز یا نیمه هادی است. |
| lexicalization | fas: میکروسکوپ تونلی روبشی |
| Finnish |
| has gloss | fin: Tunnelointimikroskooppi (STM, ) kvanttitunnelointi-ilmiöön perustuva mikroskooppi, jolla saadaan kolmiulotteisia atomitason kuvia aineen pintarakenteesta. Menetelmän, jota laite käytettää, kehittivät 1981 Gerd Binnig ja Heinrich Rohrer (IBM Zürich), ja he saivat siitä Nobelin fysiikanpalkinnon 1986. |
| lexicalization | fin: Tunnelointimikroskooppi |
| French |
| has gloss | fra: Le microscope à effet tunnel (en anglais STM, Scanning Tunneling Microscope) fut inventé en 1981 par des chercheurs dIBM, Gerd Binnig et Heinrich Rohrer, qui reçurent le Prix Nobel de physique pour cette invention en 1986. Cest un microscope en champ proche. Le microscope à effet tunnel utilise un phénomène quantique, leffet tunnel, pour déterminer la morphologie et la densité détats électroniques de surfaces conductrices ou semi-conductrices avec une résolution spatiale pouvant être égale ou inférieure à la taille des atomes. |
| lexicalization | fra: Microscope a effet tunnel |
| lexicalization | fra: Microscope À Effet Tunnel |
| Hebrew |
| has gloss | heb: מיקרוסקופ מינהור סורק, או ממ"ס (Scanning Tunneling Microscope, או STM) הוא מיקרוסקופ אשר בעזרתו ניתן לבחון משטחים ברמה האטומית. המיקרוסקופ פותח בשנת 1981 במעבדות של יבמ בציריך על ידי גרד ביניג והיינריך רורר, שקיבלו על המצאתם פרס נובל לפיזיקה בשנת 1986. הרזולוציה של ממ"ס יכולה להגיע ל-0.1 ננומטר במישור האופקי ול-0.01 ננומטר בציר האנכי. בניגוד למיקרוסקופ אלקטרוני השימוש בממ"ס אינו מחייב ואקום או טמפרטורות נמוכות. עם זאת, הסריקה דורשת משטח נקי מאוד וטיפ חד ומדויק. |
| lexicalization | heb: מיקרוסקופ מינהור סורק |
| Hindi |
| has gloss | hin: आणुविक स्तर पर सतहों को देखने के लिये अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र (STM) एक शक्तिशाली तकनीक है। सन १९८१ में गर्ड बिन्निग और हैन्रिक रोह्रर (आई बी एम ज़्यूरिख़) ने इसका आविष्कार किया जिसके लिये सन १९८६ में इन्हे भौतिकी का नोबेल पुरस्कार दिया गया। यह यंत्र टनलिंग धारा के मापन के आधार पर पदार्थ के अवस्था घनत्व को परखता है। 0.1 नैनोमीटर की चौडाई और 0.01 नैनोमीटर की गहराई तक यह देख सकता है। यह यंत्र ना सिर्फ अति-निर्वात परिस्तिथियों में, बल्कि खुली हवा तथा द्रव एवं गैस के वातावरण में भी काम कर सकता है। साथ ही लगभग शून्य केल्विन से लेकर कुछ सौ डिग्री सेल्सिअस तापमान तक यह काम कर सकता है। . |
| lexicalization | hin: अवलोकन टनलिंग सूक्ष्मदर्शी यंत्र |
| Italian |
| has gloss | ita: Un microscopio a effetto tunnel (STM) è un potente strumento per il rilvamento di superfici a livello atomico. Il suo sviluppo nel 1981 fruttò ai suoi inventori, Gerd Binnig e Heinrich Rohrer (allIBM di Zurigo), il Premio Nobel per la Fisica nel 1986. Per un STM è considerata buona una risoluzione laterale di 0.1 nm e una risoluzione in profondità di 0.01 nm. Con questa risoluzione, i singoli atomi allinterno dei materiali vengono regolarmente ripresi e manipolati. Il STM può essere utilizzato non solo nellultra alto vuoto, ma anche nellaria, nell'acqua e in vari altri liquidi o gas ambienti e a temperature che variano da quasi zero gradi kelvin a poche centinaia di gradi Celsius. |
| lexicalization | ita: Microscopio a effetto tunnel |
| Japanese |
| has gloss | jpn: 走査型トンネル顕微鏡（そうさがたトンネルけんびきょう、Scanning Tunneling Microscope）は1982年、ゲルト・ビーニッヒ(G. Binnig)とハインリッヒ・ローラー(H. Rohrer)によって作り出された実験装置。STM、走査トンネル顕微鏡とも言う。非常に鋭く尖った探針を導電性の物質の表面または表面上の吸着分子に近づけ、流れるトンネル電流から表面の原子レベルの電子状態、構造など観測するもの。トンネル電流を使うことからこの名がある。走査型プローブ顕微鏡の一つ。 |
| lexicalization | jpn: 走査型トンネル顕微鏡 |
| Dutch |
| has gloss | nld: Scanning tunneling microscopy (STM) is een techniek waarmee men op atomaire schaal de topografie van een object kan bepalen. Het is rond 1980 ontwikkeld door wetenschappers van de IBM-onderzoekslaboratoria. De ontwikkeling was een grote revolutie, omdat de techniek de eerste microscopische techniek was die atomen werkelijk individueel in beeld kon brengen. In 1986 ontvingen de ontwikkelaars, Gerd Binnig en Heinrich Rohrer, voor hun werk de Nobelprijs voor de Natuurkunde. |
| lexicalization | nld: Scanning Tunneling Microscopy |
| Polish |
| has gloss | pol: Skaningowy mikroskop tunelowy (STM od ang. Scanning Tunneling Microscope) – rodzaj SPM, mikroskopu ze skanującą sondą (ang. Scanning Probe Microscope) – umożliwia uzyskanie obrazu powierzchni materiałów przewodzących ze zdolnością rozdzielczą rzędu pojedynczego atomu. Uzyskanie obrazu powierzchni jest możliwe dzięki wykorzystaniu zjawiska tunelowego, od którego przyrząd ten wziął swoją nazwę. W rzeczywistości STM nie rejestruje fizycznej topografii próbki, ale dokonuje pomiaru obsadzonych i nieobsadzonych stanów elektronowych blisko powierzchni Fermiego. Ten sam skrót używany jest do określenia gałęzi mikroskopii – STM (ang. Scanning Tunneling Microscopy). |
| lexicalization | pol: skaningowy mikroskop tunelowy |
| Portuguese |
| lexicalization | por: Microscópio de corrente de tunelamento |
| Russian |
| has gloss | rus: Сканирующий туннельный микроскоп (СТМ, ) — вариант сканирующего зондового микроскопа, предназначенный для измерения рельефа проводящих поверхностей с высоким пространственным разрешением. В СТМ острая металлическая игла подводится к образцу на расстояние нескольких ангстрем. При подаче на иглу относительно образца небольшого потенциала возникает туннельный ток. Величина этого тока экспоненциально зависит от расстояния образец-игла. Типичные значения 1-1000 пА при расстояниях около 1 Å. |
| lexicalization | rus: Сканирующий туннельный микроскоп |
| Castilian |
| has gloss | spa: El microscopio de efecto túnel (Scanning Tunneling Microscope STM)o microscopio ciego es un poderoso instrumento que permite visualizar superficies a escala del átomo. |
| lexicalization | spa: Microscopio de efecto tunel |
| lexicalization | spa: microscopio de efecto túnel |
| Serbian |
| has gloss | srp: Скенирајући Тунелски Микроскоп (СТМ) је веома моћна технологија за снимање површине и карактеризацију материјала са могућношћу постизања атомске резолуције. СТМ је заснована на квантно-механичком ефекту тунеловања електрона. Када се зашиљен врх од проводног материјала приближи проводном или полупроводничком материјалу напон који је претходно остварен између врха и материјала омогућава пролазак електрона кроз вакуум који их раздваја. Након успостављања тока електрона струја која тече између узорка и врха (који игра улогу сонде) је функција локалне густине стања |
| lexicalization | srp: Скенирајући тунелски микроскоп |
| Swedish |
| has gloss | swe: Kanske du menade Specific Transmission Module för tåg?, se ATC och ERTMS Sveptunnelmikroskop (STM) är ett icke-optiskt mikroskop med tillräckligt bra upplösning för att kunna särskilja atomer. Verkningsprincipen beror på den kvantmekaniska tunneleffekten av elektroner från en spets som svepar över en yta. Instrumentet uppfanns av Gerd Binnig och Heinrich Rohrer 1982 vid IBM i Zürich. Uppfinningen gav dem Nobelpriset i fysik 1986. |
| lexicalization | swe: Sveptunnelmikroskop |
| Ukrainian |
| has gloss | ukr: Тунельний мікроскоп - мікроскоп, який дозволяє отримувати зображення поверхні твердого тіла практично на атомному рівні за рахунок тунелювання електронів. |
| lexicalization | ukr: Тунельний мікроскоп |
| Vietnamese |
| has gloss | vie: Kính hiển vi quét chui hầm (tiếng Anh: Scanning tunneling microscope, viết tắt là STM) là một loại kính hiển vi phi quang học, được sử dụng để quan sát hình thái học bề mặt của vật rắn hoạt động dựa trên việc ghi lại dòng chui hầm của điện tử khi sử dụng một mũi dò quét trên bề mặt mẫu. STM là một công cụ mạnh để quan sát cấu trúc bề mặt của vật rắn với độ phân giải tới cấp độ nguyên tử. STM lần đầu được phát minh năm 1981 và hai nhà phát minh ra thiết bị này là Gerd Binnig và Heinrich Rohrer (IBM, Zürich) đã giành giải Nobel Vật lý năm 1986 cho phát minh này. Nguyên lý hoạt động của STM STM là thiết bị quan sát vi cấu trúc bề mặt thuộc về nhóm thiết bị kính hiển vi quét đầu dò, tức là việc ghi ảnh dựa trên nguyên tắc quét đầu dò trên bề mặt. STM sử dụng một mũi dò nhọn mà đầu của mũi dò có kích thước là một nguyên tử, quét rất gần bề mặt mẫu. Khi đầu dò được quét trên bề mặt mẫu, sẽ xuất hiện các điện tử di chuyển từ bề mặt mẫu sang mũi dò do hiệu ứng chui hầm lượng tử và việc ghi lại dòng chui hầm (do một hiệu điện thế đặt giữa mũi dò và mẫu) này sẽ cho các thông tin về cấu trúc bề mặt. |
| lexicalization | vie: Kính hiển vi quét chui hầm |
| Chinese |
| has gloss | zho: 扫描隧道显微镜（scanning tunneling microscope，缩写为STM），亦称为掃描穿隧式顯微鏡，是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪器。它于1981年由格尔德·宾宁及海因里希·罗雷尔在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实验室发明，两位发明者因此与恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺贝尔物理学奖。 |
| lexicalization | zho: 扫描隧道显微镜 |
